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Hauptseite > Publikationsdatenbank > Correlative Atom Probe Tomography and Transmission Electron Microscopy Analysis of Grain Boundaries in Thermally Grown Alumina Scale > Zugang zum Volltext
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Correlative Atom Probe Tomography and Transmission Electron Microscopy Analysis of Grain Boundaries in Thermally Grown Alumina Scale - FZJ-2019-04125
 
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    Privat
      correlative_atom_probe_tomography_and_transmission_electron_microscopy_analysis_of_grain_boundaries_in_thermally_grown_alumina_scale
    Version 1
    correlative_atom_probe_tomography_and_transmission_electron_microscopy_analysis_of_grain_boundaries_in_thermally_grown_alumina_scale.pdf [731.32 KB] 08 Aug 2019, 14:38 Restricted
    correlative_atom_probe_tomography_and_transmission_electron_microscopy_analysis_of_grain_boundaries_in_thermally_grown_alumina_scale.pdf (pdfa) [1.83 MB] 08 Aug 2019, 14:38 Restricted
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