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Hauptseite > Publikationsdatenbank > Focused Electron-Beam Induced Deposition, In Situ TEM And Off-Axis Electron Holography Investigation of Bi-Magnetic Core-Shell Nanostructures > Zugang zum Volltext
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Focused Electron-Beam Induced Deposition, In Situ TEM And Off-Axis Electron Holography Investigation of Bi-Magnetic Core-Shell Nanostructures - FZJ-2020-02703
 
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    Privat
      focused_electronbeam_induced_deposition_in_situ_tem_and_offaxis_electron_holography_investigation_of_bimagnetic_coreshell_nanostructures
    Version 1
    focused_electronbeam_induced_deposition_in_situ_tem_and_offaxis_electron_holography_investigation_of_bimagnetic_coreshell_nanostructures.pdf [199.45 KB] 04 Aug 2020, 10:37
    focused_electronbeam_induced_deposition_in_situ_tem_and_offaxis_electron_holography_investigation_of_bimagnetic_coreshell_nanostructures.pdf (pdfa) [1.48 MB] 04 Aug 2020, 10:37
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