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Conference Presentation (Other) FZJ-2020-02744
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Measuring polarization induced electric fields in AlGaN/GaN nanowires using nano-beam electron diffraction and momentum-resolved 4D-STEM”

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2019

21st International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials, CambridgeCambridge, UK, 9 Apr 2020 - 12 Apr 20202020-04-092020-04-12

Contributing Institute(s):
  1. Physik Nanoskaliger Systeme (ER-C-1)
Research Program(s):
  1. 143 - Controlling Configuration-Based Phenomena (POF3-143) (POF3-143)

Appears in the scientific report 2020
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The record appears in these collections:
Dokumenttypen > Präsentationen > Konferenzvorträge
Institutssammlungen > ER-C > ER-C-1
Workflowsammlungen > Öffentliche Einträge
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 Datensatz erzeugt am 2020-08-05, letzte Änderung am 2021-01-30
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