Hauptseite > Publikationsdatenbank > Raman spectroscopic analysis of the effect of annealing on hydrogen concentration and microstructure of thick hot wire grown a-Si:H films aimed as precursor layers for crystallized thin film silicon > Zugang zum Volltext
 
 
Main document Datei(en):
      Postprint
    Version 1
    Postprint.pdf [695.15 KB] 24 Jan 2021, 12:36 Published on 2020-09-18. Available in OpenAccess from 2022-09-18.
Ähnliche Datensätze

JuSER :: Suchen :: Absenden :: Personalisieren :: Hilfe
Powered by Invenio v1.1.7 | join2_v2508a
Verwaltet von juser@fz-juelich.de

Impressum | Data Privacy Policy
Diese Seite gibt es auch in den folgenden Sprachen:
Deutsch  English