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@TECHREPORT{Mikulics:894272,
author = {Mikulics, Martin and Hardtdegen, Hilde},
title = {{B}auelementstruktureinheit},
reportid = {FZJ-2021-03147},
year = {2021},
abstract = {Die Erfindung betrifft eine Bauelementstruktureinheit für
(Halbleiter-) Bauelemente, umfassend mindestens ein
halbleitendes Basismaterial, welches dadurch gekennzeichnet
ist, dass auf das Basismaterial wenigstens eine
Materialschicht so aufgebracht ist, dass diese
Materialschicht ein inhomogen ausgestaltetes Dickenprofil
entlang der Oberfläche, in Transportrichtung der
Ladungsträger, im Bauelement ausbildet, mit der das
Ladungsträgerkonzentrationsprofil und die Verteilung der
Ladungsträger in einem (Halbleiter-) Bauelement gezielt
beeinflusst werden kann.Die Erfindung betrifft weiterhin ein
Verfahren zur Herstellung einer solchen
Bauelementstruktureinheit für (Halbleiter-) Bauelemente,
mit der das Ladungsträgerkonzentrationsprofil und die
Verteilung der Ladungsträger in einem (Halbleiter-)
Bauelement gezielt beeinflusst werden kann.Die Erfindung
betrifft darüber hinaus ein Halbleiter-Bauelement,
enthaltend wenigstens eine erfindungsgemäße
Bauelementstruktureinheit.},
cin = {ER-C-2},
cid = {I:(DE-Juel1)ER-C-2-20170209},
pnm = {5353 - Understanding the Structural and Functional Behavior
of Solid State Systems (POF4-535)},
pid = {G:(DE-HGF)POF4-5353},
typ = {PUB:(DE-HGF)23},
url = {https://juser.fz-juelich.de/record/894272},
}