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Conference Presentation (After Call)

Impact of the Backgate on the Performance of SOI UTBB nMOSFETs at Cryogenic Temperatures

Han, Y. (Corresponding author)FZJ* ; Xi, F.FZJ* ; Allibert, F. ; Radu, I. ; Prucnal, S. ; Bae, J. H.FZJ* ; Hoffmann-Eifert, S.FZJ* ; Knoch, J. ; Grützmacher, D.FZJ* ; Zhao, Q.-T.FZJ*

2021

Joint International EuroSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon, Virtual, France, 1 Sep 2021 - 3 Sep 2021

Contributing Institute(s):

Halbleiter-Nanoelektronik (PGI-9)

Research Program(s):

5234 - Emerging NC Architectures (POF4-523) (POF4-523)

Appears in the scientific report 2021

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The record appears in these collections:
Dokumenttypen > Präsentationen > Konferenzvorträge
Institutssammlungen > PGI > PGI-9
Workflowsammlungen > Öffentliche Einträge
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Datensatz erzeugt am 2021-12-06, letzte Änderung am 2021-12-08

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