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TI  - Standards for the Characterization of Endurance in Resistive Switching Devices
JO  - ACS nano
VL  - 15
IS  - 11
SN  - 1936-0851
CY  - Washington, DC
PB  - Soc.
M1  - FZJ-2022-00730
SP  - 17214 - 17231
PY  - 2021
LB  - PUB:(DE-HGF)16
C6  - pmid:34730935
UR  - <Go to ISI:>//WOS:000747115200012
DO  - DOI:10.1021/acsnano.1c06980
UR  - https://juser.fz-juelich.de/record/905489
ER  -