Journal Article

FZJ-2023-03952

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Reliability Aspects of 28 nm BEOL-Integrated Resistive Switching Random Access Memory

Wiefels, S. (Corresponding author)FZJ* ; Kopperberg, N. ; Hofmann, K. ; Otterstedt, J. ; Wouters, D. ; Waser, R.FZJ* ; Menzel, S.FZJ*

2024
Wiley-VCH Weinheim

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Contributing Institute(s):

1. Elektronische Materialien (PGI-7)
2. JARA-FIT (JARA-FIT)

Research Program(s):

1. 5234 - Emerging NC Architectures (POF4-523) (POF4-523)
2. BMBF 16ME0399 - Verbundprojekt: Neuro-inspirierte Technologien der künstlichen Intelligenz für die Elektronik der Zukunft - NEUROTEC II - (BMBF-16ME0399) (BMBF-16ME0399)
3. BMBF 16ME0398K - Verbundprojekt: Neuro-inspirierte Technologien der künstlichen Intelligenz für die Elektronik der Zukunft - NEUROTEC II - (BMBF-16ME0398K) (BMBF-16ME0398K)

Appears in the scientific report 2024

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Database coverage:
; ; ; Clarivate Analytics Master Journal List ; Current Contents - Physical, Chemical and Earth Sciences ; DEAL Wiley ; Ebsco Academic Search ; Essential Science Indicators ; IF < 5 ; JCR ; Nationallizenz ; SCOPUS ; Science Citation Index Expanded ; Web of Science Core Collection

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