Diploma Thesis FZJ-2013-01888

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Laser Annealing for shallow junction formation in As and B implanted Si0.64Ge0.36 layers



2012

94 S. () = TU Dortmund, Diplomarbeit, 2012

Keyword(s): Unveröffentlichte Hochschulschrift


Note: TU Dortmund, Diplomarbeit, 2012

Contributing Institute(s):
  1. Halbleiter-Nanoelektronik (PGI-9)
Research Program(s):
  1. 421 - Frontiers of charge based Electronics (POF2-421) (POF2-421)

Appears in the scientific report 2012
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Dokumenttypen > Hochschulschriften > Diplomarbeiten
Institutssammlungen > PGI > PGI-9
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 Datensatz erzeugt am 2013-04-09, letzte Änderung am 2021-01-29


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