Hauptseite > Publikationsdatenbank > The influence of copper top electrode on the resistive switching effect in TiO2 thin films studied by conductive atomic force microscopy > Zugang zum Volltext
 
 
Main document Datei(en):
Ähnliche Datensätze

JuSER :: Suchen :: Absenden :: Personalisieren :: Hilfe
Powered by Invenio v1.1.7 | join2_v2508a
Verwaltet von juser@fz-juelich.de

Impressum | Data Privacy Policy
Diese Seite gibt es auch in den folgenden Sprachen:
Deutsch  English