SFB 917 B09

In-situ-Transmissionselektronenmikroskopie von resistiv schaltenden Bauelementen (B09)

CoordinatorProfessor Dr. Rafal E. Dunin-Borkowski
Grant period2015 - 2023
Funding bodyDeutsche Forschungsgemeinschaft
 DFG
IdentifierG:(GEPRIS)277688395

SFB 917: Resistiv schaltende Chalkogenide für zukünftige Elektronikanwendungen: Struktur, Kinetik und Bauelementskalierung "Nanoswitches"

Note: Im Projekt B9 liegt der Schwerpunkt auf der in situ TEM-Charakterisierung neuartiger PCM- und VCM-Materialien während des Schaltvorgangs. Änderungen der Atomstruktur und der lokalen elektrischen Feldverteilungen werden mit sub-nm räumlicher Auflösung verfolgt, wobei sowohl pixelige STEM-Techniken als auch die Elektronenholographie außerhalb der Achse verwendet werden. Bei PCMs wird der Schwerpunkt auf Studien an räumlich begrenzten Bauelementen liegen, bei denen die kleine Bauteilgröße und die kurzen Verweilzeiten die Bildgebung erschweren. Bei VCMs liegt der Schwerpunkt auf Defektstudien, die eine strukturelle und chemische Analyse mit subatomarer Auflösung erfordern.
   

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IEEE 15th International Memory Workshop, IMW, MontereyMonterey, USA, 21 May 2023 - 24 May 20232023-05-212023-05-24 OpenAccess  Download fulltext Files  Download fulltextFulltext by OpenAccess repository BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

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 Datensatz erzeugt am 2021-09-20, letzte Änderung am 2023-07-13



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