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Journal Article PreJuSER-135983
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Determination of the valence band offset of Si/Si0.7Ge0.3/Si quantum wells using deep level transient spectroscopy

 ;  ;
American Institute of Physics

Journal of applied physics 73(11), 7427 - 7430 () [10.1063/1.353984]

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Note: Record converted from JUWEL: 18.07.2013
Contributing Institute(s):
  1. Halbleiter-Nanoelektronik (IBN-1)
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Dokumenttypen > Aufsätze > Zeitschriftenaufsätze
Institutssammlungen > PGI > PGI-9
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 Datensatz erzeugt am 2013-07-18, letzte Änderung am 2020-04-23
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