Patent

FZJ-2013-05610

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Verfahren und Elektronenmikroskop zur Messung der Ähnlichkiet zweidimensionaler Bilder

Thust, A. (Corresponding author)FZJ*

2013

Patent No.: 8,351,710; .

Note: US-amerikanische Patentanmeldung 12/310,052

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Contributing Institute(s):

1. Mikrostrukturforschung (PGI-5)

Research Program(s):

1. 422 - Spin-based and quantum information (POF2-422) (POF2-422)
2. 42G - Peter Grünberg-Centre (PG-C) (POF2-42G41) (POF2-42G41)

Appears in the scientific report 2013

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