Hauptseite > Publikationsdatenbank > Scanning tunneling microscopy study of Si and Ge on Silicon
 
Journal Article PreJuSER-35288
http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png
Scanning tunneling microscopy study of Si and Ge on Silicon



2003
Advanced Study Center St. Petersburg

Reviews on advanced materials science 4, 10 - 14 ()

Classification:

Note: Record converted from VDB: 12.11.2012
Contributing Institute(s):
  1. Institut für Grenzflächen und Vakuumtechnologien (ISG-3)
Research Program(s):
  1. Materialien, Prozesse und Bauelemente für die Mikro- und Nanoelektronik (I01)

Appears in the scientific report 2003
Notes: Nachtrag
Click to display QR Code for this record

The record appears in these collections:
Dokumenttypen > Aufsätze > Zeitschriftenaufsätze
Institutssammlungen > PGI > PGI-3
Workflowsammlungen > Öffentliche Einträge
Publikationsdatenbank
 Datensatz erzeugt am 2012-11-13, letzte Änderung am 2018-02-10
Ähnliche Datensätze



Dieses Dokument bewerten:

Rate this document:
1
2
3
4
5
 
(Bisher nicht rezensiert)
JuSER :: Suchen :: Absenden :: Personalisieren :: Hilfe
Powered by Invenio v1.1.7 | join2_v2510-2-gd5e4e3e
Verwaltet von juser@fz-juelich.de

Impressum | Data Privacy Policy
Diese Seite gibt es auch in den folgenden Sprachen:
Deutsch  English