Book/Report

FZJ-2018-06355

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Elektronenmikroskopische Untersuchungen von Defekten in ikosaedrischen Quasikristallen

Wollgarten, M. (Corresponding author)FZJ*

1994
Forschungszentrum Jülich GmbH Zentralbibliothek, Verlag Jülich

Please use a persistent id in citations: http://hdl.handle.net/2128/19962

Report No.: Juel-2865

Abstract: Diese Arbeit befaßt sich mit der Untersuchung von Defekten in ikosaedrischen Quasikristallen mit Hilfe von verschiedenen, elektronenmikroskopischen Methoden. Nach einem einleitenden Kapitel über die Entdeckung und verschiedene physikalische Eigenschaften der Quasikristalle wird beschrieben, wie man das Gitter und die Beugungsbilder von Quasikristallen berechnen kann. Dabei wird erklärt, daß sich ikosaedrische Quasigitter von sechsdimensionalen, periodischen Gittern ableiten lassen. Der sechsdimensionale Raum wird dabei in zwei dreidimensionale, zueinander orthogonale Unterräume unterteilt. Im ersten, dem physikalischen Raum E$_{\vert \vert},$ensteht das dreidimensionale Gitter. Der zweite Unterraurn wird als Orthogonalraurn E$_{\bot}$ bezeichnet und dient als Konstruktionshilfe. Daran anschließend wird eine Einführung in die Theorie der Defekte von quasiperiodischen Gittern gegeben. Es zeigt sich, daß die Defekte durch Verzerrungsfelder in einem sechsdimensionalen Gitter, $\vec{U}(\vec{x}_{\vert \vert}$, und in den Unterräumen E$_{\vert \vert}$,$\vec{u}_{\vert \vert}(\vec{x}_{\vert \vert})$, und E$_{\bot}$ $\vec{u}_{\bot} (\vec{x}_{\vert \vert})$, charakterisiert werden können. In dem nun folgenden Teil wird im Rahmen einer kinematischen Kontrasttheorie und unter Berücksichtigung der Säulennäherung abgeleitet , unter welchen Abbildungsbedingungen Defekte imTransmissionselektronenmikroskop zu sehen sind. Die wichtigsten Ergebnisse sind hier: [...]

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Contributing Institute(s):

1. Publikationen vor 2000 (PRE-2000)

Research Program(s):

1. 899 - ohne Topic (POF3-899) (POF3-899)

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Database coverage:

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