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Talk (non-conference) (Invited) FZJ-2022-03594
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Quantifying polarization changes at nitride semiconductor interfaces by scanning tunneling microscopy and off-axis electron holography(American Vacuum Society Taiwan Chapter symposium on “Advances in Scanned Probe Microscopy”).



2021

Taiwan-AVS symposium, virtuellvirtuell, Taiwan, 28 Jan 2021 - 29 Jan 20212021-01-282021-01-29

Contributing Institute(s):
  1. Physik Nanoskaliger Systeme (ER-C-1)
Research Program(s):
  1. 5351 - Platform for Correlative, In Situ and Operando Characterization (POF4-535) (POF4-535)

Appears in the scientific report 2022
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The record appears in these collections:
Dokumenttypen > Präsentationen > Vorträge (nicht Konferenz)
Institutssammlungen > ER-C > ER-C-1
Workflowsammlungen > Öffentliche Einträge
Publikationsdatenbank
 Datensatz erzeugt am 2022-10-05, letzte Änderung am 2023-01-23
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