Conference Presentation (Other) FZJ-2023-00708

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png
Spatially resolved electrical analysis of epitaxial defect-stabilized hafnium oxide thin films

 ;  ;  ;  ;  ;  ;  ;

2022

Materials Research Society Fall Meeting, BostonBoston, USA, 27 Nov 2022 - 2 Dec 20222022-11-272022-12-02


Contributing Institute(s):
  1. Elektronische Materialien (PGI-7)
  2. JARA-FIT (JARA-FIT)
  3. JARA Institut Green IT (PGI-10)
Research Program(s):
  1. 5233 - Memristive Materials and Devices (POF4-523) (POF4-523)

Appears in the scientific report 2022
Click to display QR Code for this record

The record appears in these collections:
Dokumenttypen > Präsentationen > Konferenzvorträge
JARA > JARA > JARA-JARA\-FIT
Institutssammlungen > PGI > PGI-10
Institutssammlungen > PGI > PGI-7
Workflowsammlungen > Öffentliche Einträge
Publikationsdatenbank

 Datensatz erzeugt am 2023-01-16, letzte Änderung am 2023-01-23



Dieses Dokument bewerten:

Rate this document:
1
2
3
 
(Bisher nicht rezensiert)