DFG project G:(GEPRIS)422581876

Kryogene CMOS Technologie für die Realisierung von von klassischen QuBit-Kontrollschaltkreisen

CoordinatorProfessor Dr. Joachim Knoch ; Professor Dr. Qing-Tai Zhao
Grant period2019 -
Funding bodyDeutsche Forschungsgemeinschaft
 DFG
IdentifierG:(GEPRIS)422581876

Note: Die Quanteninformationstechnologie verspricht, enorme Rechenleistung freizusetzen, um Probleme zu lösen, die mit den heutigen klassischen Computern unlösbar sind. Die Realisierung eines nützlichen Quanteninformationsprozessors (QIP) erfordert jedoch eine große Anzahl gekoppelter Qubits. Der Grund dafür ist, dass jedes logische Qubit aus einer großen Anzahl von physikalischen Qubit-Implementierungen besteht, um eine geeignete Fehlerkorrektur zu etablieren, die z. B. Oberflächencodes verwendet. Jedes der physikalischen Qubits benötigt eine Steuereinheit, die Auslese-, Gate-Pulse und Bias-Parameter bereitstellt. Eine große Herausforderung besteht darin, dass die vielversprechendsten Ansätze für die Realisierung von Festkörper-Qubits bei kryogenen Temperaturen betrieben werden, was die verfügbare Kühlleistung pro Qubit auf sehr niedrige Werte im Mikro- bis Nanowattbereich begrenzt. Typische Experimente werden von externen Schaltkreisen gesteuert, die sich bei Raumtemperatur oder zumindest bei einer höheren Temperatur als die des Qubits befinden. Die Ausweitung dieses Ansatzes auf die erforderliche Anzahl von Qubits erscheint aufgrund von Überlegungen zur Interkonnektivität und Größe völlig unpraktisch. Ein integrierter Ansatz mit mikrogefertigter klassischer und Quanten-Hardware in unmittelbarer Nähe ist daher sehr attraktiv. Die Integration klassischer Steuerelektronik in der Nähe des eigentlichen Qubit-Chips erfordert jedoch, dass die Steuerelektronik bei einer Temperatur von ~1K (bei ähnlicher Leistung wie bei modernen CMOS-Schaltungen) und mit extrem niedrigem Stromverbrauch betrieben wird. Aufgrund der begrenzten Kühlleistung müssen kryogene CMOS-Schaltungen mit einer sehr niedrigen Versorgungsspannung im Bereich von einigen zehn mV betrieben werden. Dies bedeutet, dass extrem steile inverse Unterschwellenflanken, eine sehr enge Kontrolle der Schwellenspannung sowie eine sehr geringe Variabilität erforderlich sind, was mit der bestehenden, für den Betrieb bei Raumtemperatur optimierten Technologie durch einfaches Abkühlen nicht erreicht werden kann. Der vorliegende Vorschlag ist die Fortsetzung eines Projekts, das die Erforschung und Entwicklung einer speziellen kryogenen CMOS-Technologie (cCMOS) sowie die Herstellung und Charakterisierung von Feldeffekttransistoren auf Basis dieser cCMOS-Technologie zum Ziel hatte. Im Rahmen des vorangegangenen Projekts konnten wir zwei vielversprechende Wege zur Herstellung von kryogenen FETs mit steilen Flanken aufzeigen und untersuchten, wie sich Dotierungen in solchen Bauelementen vermeiden lassen. Hier wollen wir die Ansätze weiterentwickeln und kombinieren, um cCMOS-Bauelemente mit extrem steilen Schaltverhalten zu realisieren.
   

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http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Contribution to a conference proceedings  ;  ;  ;  ;  ;
Improved performance of FDSOI FETs at cryogenic temperatures by optimizing ion implantation into silicide
EUROSOI-ULIS, TarragonaTarragona, Spain, 10 Mar 2023 - 12 Mar 20232023-03-102023-03-12 5.1 () BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

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Solid state electronics 208, 108733 - () [10.1016/j.sse.2023.108733] BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Conference Presentation (After Call)  ;  ;  ;  ;  ;
High Performance 5 nm Si Nanowire FETs with a Record Small SS = 2.3 mV/dec and High Transconductance at 5.5 K Enabled by Dopant Segregated Silicide Source/Drain
2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), KyotoKyoto, Japan, 11 Jun 2023 - 16 Jun 20232023-06-112023-06-16 [10.23919/VLSITechnologyandCir57934.2023.10185373]  Download fulltext Files BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Talk (non-conference) (Invited)
CMOS devices for quantum and neuromorphic computing
Seminar, Tokyo TechTokyo Tech, Japan, 24 Nov 20232023-11-24 BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Conference Presentation (Invited)
Gate all around nanowire FETs: Operation from RT to Cryogenic temperatures
International Cooperation On Semiconductors Workshop, ICOS, GrenobleGrenoble, France, 26 Apr 2023 - 28 Apr 20232023-04-262023-04-28 BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Conference Presentation (Invited)
Exploring Low Power Devices with New Materials and Steep Slope Transistors
International conference on Solid-State Devices and Materials, SSDM, NagoyaNagoya, Japan, 5 Sep 2023 - 8 Sep 20232023-09-052023-09-08 BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Journal Article  ;  ;  ;  ;  ;  ;  ;
Interface Engineering for Steep Slope Cryogenic MOSFETs
IEEE electron device letters 43(12), 2149 - 2152 () [10.1109/LED.2022.3217314] OpenAccess  Download fulltext Files  Download fulltextFulltext by OpenAccess repository BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Journal Article  ;  ;  ;  ;  ;  ;  ;  ;
Steep Switching Si Nanowire p-FETs With Dopant Segregated Silicide Source/Drain at Cryogenic Temperature
IEEE electron device letters 43(8), 1187 - 1190 () [10.1109/LED.2022.3185781] OpenAccess  Download fulltext Files  Download fulltextFulltext by OpenAccess repository BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Journal Article  ;  ;  ;  ;  ;
Cryogenic characteristics of UTBB SOI Schottky-Barrier MOSFETs
Solid state electronics 194, 108351 - () [10.1016/j.sse.2022.108351] OpenAccess  Download fulltext Files  Download fulltextFulltext by OpenAccess repository BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

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Characterization of fully silicided source/drain SOI UTBB nMOSFETs at cryogenic temperatures
Solid state electronics 192, 108263 - () [10.1016/j.sse.2022.108263] OpenAccess  Download fulltext Files  Download fulltextFulltext by OpenAccess repository BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

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 Record created 2021-09-20, last modified 2024-09-25



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